一种用于产品外观全检的治具

授权

摘要

本实用新型涉及外观检测技术领域，具体来说是一种用于产品外观全检的治具，装料盘上设有若干第一产品容置位，且在对应于每个第一产品容置位的位置设有顶出孔；顶料盘对应于顶出孔设有相适应的顶块，若干顶块的上端面具有向同侧倾斜的斜面；翻转盘上设有与第一产品容置位相对应的第二产品容置位。本实用新型通过顶料盘与装料盘的配合，以将产品顶起的方式使得全检人员在不接触产品的前提下能够保证产品的侧面以及顶面和底面能被清楚地观察到；并且通过翻转盘与装料盘的配合，将一次操作一片产品的过程优化为一次操作一盘产品，大大减少了全检的时间；并且还减少了发生三伤的可能性，有助于提高产品的良率。

基本信息

专利标题：

一种用于产品外观全检的治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021266726.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-02

授权号：

CN212133610U

授权日：

2020-12-11

发明人：

余小波

申请人：

赫比（上海）金属工业有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区祝桥镇金闻路96号2-6幢;100号1幢3层,2幢2-3层;102号1幢1层B区3层B区,2幢1-3层B区,3幢

代理机构：

上海三方专利事务所(普通合伙)

代理人：

徐成泽

优先权：

CN202021266726.7

主分类号：

G01B21/00

IPC分类号：

G01B21/00