用于底部或侧向检测的发光免疫分析仪校准的计量标准器
授权
摘要

本实用新型用于底部或侧向检测的发光免疫分析仪校准的计量标准器包括:支架、光源、侧向光导、第一干涉滤光片、衰减片和光谱中性滤光片,支架为圆柱筒,在支架的上端开有凹槽,光源固定在凹槽内,在支架的下端固定有圆柱形的侧向光导,在光源和侧向光导之间圆柱筒为滤光片腔室,沿着滤光片腔室的长度方向上开有三对插口,每对插口开在圆柱筒圆周对称位置处,干涉滤光片、衰减片和光谱中性滤光片一种或几种分别插在上述的一对插口上,它们沿着滤光片腔室长度方向平行放置,光源的出光孔正对着干涉滤光片、衰减片和光谱中性滤光片一种或几种,该计量标准器用于底部检测和侧向检测的发光免疫分析仪校准,评价和保证发光免疫分析仪检测结果准确有效。

基本信息
专利标题 :
用于底部或侧向检测的发光免疫分析仪校准的计量标准器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021290908.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-03
授权号 :
CN212845025U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
武利庆杨彬张宁
申请人 :
中国计量科学研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 :
北京双收知识产权代理有限公司
代理人 :
解政文
优先权 :
CN202021290908.8
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/01  G01N33/533  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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