一种测温探头及测温仪
授权
摘要

本实用新型涉及红外测温技术领域,公开了一种测温探头及测温仪,测温探头包括套筒和传感器,所述套筒上设置有相互连通的收纳孔和视场孔,所述传感器设置于所述收纳孔内;所述套筒的材质为低发射率的金属,所述视场孔的内壁设置为锯齿状,且锯齿的表面为亮面。控制传感器和套筒的温差,可有效降低套筒对传感器辐射能量影响,搭配低发射率金属材质可进一步减小套筒对传感器辐射能量影响;视场孔的内表面设置为锯齿状,且锯齿的表面为亮面,环境能量经锯齿的表面经过一次或多次反射之后传递到环境中,而不会反射至传感器,环境能量不会对传感器造成干扰。两种干扰能量对传感器的影响均较小,可以忽略,可以保证测量结果的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种测温探头及测温仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021300020.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-06
授权号 :
CN212621135U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
柳顺兵常永良
申请人 :
浙江宇视科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路88号10幢南座1-11层、2幢A区1-3楼、2幢B区2楼
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN202021300020.8
主分类号 :
G01J5/06
IPC分类号 :
G01J5/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
G01J5/06
消除干扰辐射影响的装置
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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