一种用于测绘仪器检校的测量夹具

授权

摘要

本实用新型公开了一种用于测绘仪器检校的测量夹具，包括平台，平台上设有用于夹持测绘仪器的夹持系统，平台内还设有用于驱动夹持系统进行夹持动作及松开动作的驱动系统；夹持系统包括分别分布在平台两侧的若干夹持臂，夹持臂在平台的两侧对称分布，并且夹持臂与平台的侧部铰接，使得夹持臂在驱动系统的作用下沿垂直于平台侧部的方向来回摆动；夹持臂的顶端朝向测绘仪器的一侧还通过弹簧连接有压板，压板的外侧面连接有一层软垫层。本实用新型结构简单，操作方便，能够夹持固定各种形状不等的测量测绘仪器，保证仪器拆卸正常进行，不会发生损坏仪器配件的现象，提高了拆卸速度和效率，保证了仪器的完好度，同时也缩短拆卸时间。

基本信息

专利标题：

一种用于测绘仪器检校的测量夹具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021307561.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-07

授权号：

CN212274947U

授权日：

2021-01-01

发明人：

陈骏韩立信李忱

申请人：

北京市鼎新新技术有限责任公司

申请人地址：

北京市海淀区志新路6-1号

代理机构：

北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

吴凡

优先权：

CN202021307561.3

主分类号：

G01C25/00

IPC分类号：

G01C25/00