一种易调节精确性的偏振度测试仪
授权
摘要
本实用新型提供一种易调节精确性的偏振度测试仪。所述易调节精确性的偏振度测试仪包括测试台；测试仪本体，测试仪本体设于所述测试台的上方；安装板，所述安装板固定安装在所述测试仪本体的底部；中轴，所述中轴固定安装在所述安装板的底部，所述中轴转动安装在所述测试台上；蜗轮，所述蜗轮固定套设在所述中轴上；蜗杆，所述蜗杆转动安装在所述测试台的下方；旋钮，所述旋钮固定安装在所述蜗杆的一端；螺纹套筒，所述螺纹套筒转动安装在所述测试台上；螺纹杆，所述螺纹杆螺纹安装在所述螺纹套筒内。本实用新型提供的易调节精确性的偏振度测试仪具有可使测试结果误差降低、提高测试数据精确性且操作简单方便的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种易调节精确性的偏振度测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021313465.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-07
授权号 ：
CN212458660U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
向三伢
申请人 ：
武汉森辉光电科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园路长城园路8号海容基孵化园A栋4楼406室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021313465.X
主分类号 ：
G01J4/00
IPC分类号 ：
G01J4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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