一种用于金属检测的痕迹检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及检测仪技术领域,特别是涉及一种用于金属检测的痕迹检测装置。所述用于金属检测的痕迹检测装置包括固定装置、移动装置、检测装置、显示装置、信号发射器、信号接收器,固定装置上放置有待检测设备,移动装置安装于所述固定装置上,检测装置安装于所述移动装置上,检测装置包括摄像机,摄像机安装于所述移动装置上,显示装置与摄像机之间通信连接,信号发射器设置于固定装置上,信号接收器设置于固定装置上,待检测设备设置于信号发射器与信号接收器之间。本实用新型的移动装置可以在固定装置上进行上下移动,从而调整摄像机与距离待检测设备之间的距离,而且本实用新型的体积较小,便于携带。
基本信息
专利标题 :
一种用于金属检测的痕迹检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021323162.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-08
授权号 :
CN214584934U
授权日 :
2021-11-02
发明人 :
陈俊梁英辉刘荣和
申请人 :
安徽机电职业技术学院
申请人地址 :
安徽省芜湖市弋江区高教园区文津西路16号
代理机构 :
北京元本知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
范奇
优先权 :
CN202021323162.6
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84 G01N21/01 G01N33/20 G06K9/00 G02B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-11-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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