轴系对中检测装置
授权
摘要
轴系对中检测装置，包括基准光源、基准靶和测量靶，基准光源内设有光源电路板，基准靶和测量靶内设有电路板，电路板连接安装于基准靶和测量靶内的光斑位置传感器，基准光源的光源电路板通过采集基准靶的光斑位置传感器信息判断基准光源和基准靶的对中偏差并且调节光源位置使光斑对准基准靶的中心，测量靶通过采集光斑数据判断测量靶与基准光源的对中偏差并且调节测量靶位置使光斑对准测量靶。本实用新型基准光源与基准靶采用磁性底座进行安装固定，缩短安装时间；基准光源与基准靶无线通讯，自动将光斑对准靶心，缩短调节时间；通过手持终端数字化显示偏差量，数据易读直观，减少人工读数的误差，提高检测精度和对中调节的便捷性。
基本信息
专利标题 ：
轴系对中检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021325693.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-08
授权号 ：
CN212363127U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
毕双旭倪涛孟庆海杜鹏刘伟
申请人 ：
大连达发科技有限公司
申请人地址 ：
辽宁省大连市经济技术开发区东北七街10-17-6
代理机构 ：
大连优路智权专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋春昕
优先权 ：
CN202021325693.9
主分类号 ：
G01B11/27
IPC分类号 ：
G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/27
••用于检测轴线准直
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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