电子弹性反冲探测系统
授权
摘要
本实用新型公开了电子弹性反冲探测系统，包括真空室，还包括置于真空室中的电子枪、靶材料和探测器，所述电子枪和探测器均安装在靶材料上方；所述电子枪用于提供轰击靶材料的入射粒子束，所述电子枪提供的入射粒子束为低能量电子束；所述探测器用于接收入射粒子束轰击靶材料后产生的弹性反冲氢离子。本实用新型采用低能量电子束作为入射粒子束，在不损伤材料表面的同时对其氢同位素的测量分辨率达到纳米级；解决了现有探测技术分辨率较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
电子弹性反冲探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021329126.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-08
授权号 ：
CN212433427U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
张晓宁龙继东彭宇飞李晨何佳龙赵伟
申请人 ：
中国工程物理研究院流体物理研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 ：
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐邦英
优先权 ：
CN202021329126.0
主分类号 ：
G01T1/38
IPC分类号 ：
G01T1/38 G01N23/201
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
G01T1/38
粒子甄别和相对质量的测量；例如，测量能量损耗与距离的关系
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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