一种低功耗读卡检测电路
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摘要
本实用新型涉及智能卡的技术领域,尤其涉及一种低功耗读卡检测电路,其包括检测装置、读卡装置以及控制装置,所述检测装置用于检测智能卡是否处于射频场内并输出检测信号,所述控制装置耦接于检测装置、并用于接收检测信号以输出控制信号,所述读卡装置耦接于控制装置、并用于接收控制信号以读取智能卡的数据,所述读卡装置上耦接有供电装置,所述供电装置用于对检测装置、读卡装置以及控制装置进行供电。本实用新型具有低功耗、节省电能的效果。
基本信息
专利标题 :
一种低功耗读卡检测电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021330549.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-07
授权号 :
CN212540581U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
李绪鹏黄锐深谢敏梁业昌张挺松滕韬颜波周能慧
申请人 :
深圳市国邦泰富科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技园2号厂房六楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021330549.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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