一种测量基坑参数的基坑支护结构

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摘要

本实用新型公开了一种测量基坑参数的基坑支护结构，包括插设于基坑内部的两个立板，两个所述立板相对的侧壁之间设有用于测量基坑参数的检测机构，两个所述立板的下端分别固定连接有多个立柱，多个所述立柱的内部分别设有用于保持立板稳定的支护机构。本实用新型结构合理，可以通过两个第一转杆以及第二转杆完成对立板的支撑，避免在测量基坑参数数据的时候出现固定不牢的情况，也可以对两个立板之间的距离进行调节，进而使得两个立板可以以不同的角度插设于基坑内，从而可以得到多组不同角度的测量数据。

基本信息

专利标题：

一种测量基坑参数的基坑支护结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021351957.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-10

授权号：

CN212670590U

授权日：

2021-03-09

发明人：

刘真刘士洋丁燕平李宁杰周元辅向坤

申请人：

重庆国翔新材料有限公司

申请人地址：

重庆市大渡口区北部新区金渝大道89号4幢1-15-1

代理机构：

贵阳易博皓专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

田常娟

优先权：

CN202021351957.8

主分类号：

E02D17/04

IPC分类号：

E02D17/04 E02D1/00