一种充电接口测试结构、测试装置及测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及接口测试技术领域，具体为一种充电接口测试结构、测试装置及测试系统，充电接口测试结构包括切换元件，所述切换元件包括公共端、控制端以及多组连接端，通过所述控制端能够切换与所述公共端导通的连接端组，所述公共端用于连接测试装置，所述每组连接端均与被测接口对应的一组切换引脚连接。本申请的一种充电接口测试结构、测试装置及测试系统，能够解决现有接口测试过程中，需要人工反复连接不同的引脚、手动翻面插拔接口的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种充电接口测试结构、测试装置及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021400330.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN212568999U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
沈召辉吴国明
申请人 ：
群光电能科技（重庆）有限公司
申请人地址 ：
重庆市江津区双福街道办事处九江大道18号
代理机构 ：
重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
隋金艳
优先权 ：
CN202021400330.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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