一种SiC二极管测试用夹具
授权
摘要

本实用新型提供了一种SiC二极管测试用夹具,包括固定座、第一测试夹和第二测试夹,固定座固定有第一测试杆和两个第二测试杆,固定座内在空腔的一侧开设有滑槽,第一测试夹安装在两个空腔内,固定座内还转动连接有转轴,转轴的外侧在靠近两个第一测试夹的部分固定连接有齿轮,第一测试夹的底面固定有齿条,齿轮与齿条之间啮合连接,第二测试夹也固定在固定座内,第一测试夹和第二测试夹的另一端固定有测试座,本实用新型通过在测试用固定座内设置有固定测试夹和活动测试夹,转动旋钮,进而带动齿轮转动完成齿条的调整,即可通过齿条的作用完成第一测试夹的位置调整,便于不同大小的SiC二极管的测试使用,便捷方便。

基本信息
专利标题 :
一种SiC二极管测试用夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021419045.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-17
授权号 :
CN212693953U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
蒲辰
申请人 :
西安长禾半导体技术有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区锦业路69号创新商务公寓1号楼10310室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021419045.X
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  B25B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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