一种采用超声波定位技术跟随式检漏仪

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摘要

本实用新型涉及氦质谱检漏仪技术领域，具体公开了一种采用超声波定位技术跟随式检漏仪，包括检漏仪本体、控制箱、超声波定位仪和底座，所述控制箱安装在检漏仪本体上方，检漏仪本体安装在底座上，所述超声波定位仪设置在检漏仪本体侧面；所述底座下侧设置有安装板，所述安装板上设置有驱动轮；所述控制箱中设置有控制器，在控制箱前侧设置有显示屏和操作按钮，显示屏、操作按钮、驱动轮的电机均与控制器电性连接，检漏仪本体、超声波定位仪均由控制器控制工作；本实用新型所提供的检漏仪，能够在超声波定位仪的作用下检测位置，并在相应驱动轮的带动下移动调整位置，实现跟随检测的目的，使用方便，有效提高了使用效率。

基本信息

专利标题：

一种采用超声波定位技术跟随式检漏仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021420554.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-16

授权号：

CN212646007U

授权日：

2021-03-02

发明人：

杨效冉振为洪荣丰郭炳汉曹大阳汪浩

申请人：

深圳华尔升智控技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区华霆路5号厂房B栋1层-2层

代理机构：

合肥东邦滋原专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

张海燕

优先权：

CN202021420554.4

主分类号：

G01M3/20

IPC分类号：

G01M3/20