一种液体样品XRF测量装置
授权
摘要
本实用新型公开一种液体样品XRF测量装置，包括：一密闭的壳体，所述壳体内部在其前段部设为独立的样品室，所述样品室远离所述壳体外侧的两个相邻的内侧边上分别开设有检测通孔；所述样品室内设有放置样品的样品架；所述壳体内设有X射线发生器以及接收器，所述X射线发生器以及接收器均位于所述样品室的外侧且分别对应于一所述检测通孔，且X射线发生器与接收器呈90°，且所述X射线发生器和接收器与样品处于同一水平面。本申请将X射线发生器和接收器呈90°布置且与样品设置在同一水平面上，整体结构得到优化，空间占用率减小；且因为同一水平面布置，对于安装的精度要求不高，可避免零件误差带来的困扰；此外，便于调节焦点，提高精准率。
基本信息
专利标题 ：
一种液体样品XRF测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021427832.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-20
授权号 ：
CN213364634U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
郑华孙一帆
申请人 ：
上海精谱科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区西冈身路569号
代理机构 ：
上海宏威知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵芳梅
优先权 ：
CN202021427832.9
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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