光纤几何尺寸测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及光纤几何尺寸测试技术领域,尤其涉及一种光纤几何尺寸测试装置,包括旋转支架、与旋转支架相连接的驱动件和安装在旋转支架上的多个物镜,驱动件驱动旋转支架绕自身轴线转动,多个物镜分布在以旋转支架的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。可根据被测光纤的几何尺寸大小选择旋转支架上多个物镜其中一个合适的作为测试物镜,由驱动件驱动旋转支架转动使选择的测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处进行测试;当被测光纤的几何尺寸大小发生变化时,可以切换测试物镜,从而能够实现较大直径范围内不同直径光纤的几何尺寸测试,物镜的切换过程便捷,且减小了人工干预的误差,能够有效加快测试速度并保证测试精度。

基本信息
专利标题 :
光纤几何尺寸测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021449116.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-21
授权号 :
CN212253994U
授权日 :
2020-12-29
发明人 :
张成夏于生刘杰及少勇陈程
申请人 :
上海电缆研究所有限公司;上海赛克力光电缆有限责任公司
申请人地址 :
上海市杨浦区军工路1000号
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
李双娇
优先权 :
CN202021449116.0
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-12-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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