一种便于测量基坑的基坑围护结构

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摘要

本实用新型公开了一种便于测量基坑的基坑围护结构，包括内侧墙体和外侧墙体，所述内侧墙体和外侧墙体之间设有外部金属框架，所述内侧墙体的内部设有第一圆柱形通孔，所述外侧墙体的内部设有第二圆柱形通孔，所述外侧墙体的上部设有放置凹槽，本实用新型带有内侧墙体和外侧墙体，内侧墙体的高度低于外侧墙体，内侧墙体和外侧墙体之间设有外部金属框架，起到给外侧墙体加固的作用，外侧墙体的上部设有放置凹槽，所述放置凹槽上卡接有金属方杆，所述金属方杆的上部焊接有支撑板，所述支撑板的内部设有红外测量仪安装槽，用于安装红外测量仪，方便经常测量，内侧墙体和外侧墙体之间设有防水涂层，加强了防水性能。

基本信息

专利标题：

一种便于测量基坑的基坑围护结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021478738.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-24

授权号：

CN213086811U

授权日：

2021-04-30

发明人：

陈星辉

申请人：

苏交科集团广东检测认证有限公司

申请人地址：

广东省广州市花都区迎宾大道163号高晟广场3幢13A层

代理机构：

上海智力专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

周涛

优先权：

CN202021478738.6

主分类号：

E02D17/04

IPC分类号：

E02D17/04 E02D33/00