一种平均照度和照度均匀度的综合测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种平均照度和照度均匀度的综合测试仪，包括立柱、支架和防护底盖，所述立柱的正上方设置有受光器，且受光器的下侧设置有测量器外壳，所述测量器外壳的外侧四周设置有传导线，且传导线的外端下侧连接有支架，所述立柱的底端设置有收束块，且收束块的底部外侧设置有延展架，所述支架的底部设置有插接柱，所述立柱的正下方设置有防护底盖，所述受光器的底部固定有受光器连接块,且受光器连接块的下侧设置有显示面板。该支架的底部呈三角状，且立柱通过支架与防护底盖构成可拆卸结构，护底盖套合在收束后的综合测试仪的底部，从而将立柱与支架底端的三角覆盖，从而避免该装置在使用时伤到使用者。
基本信息
专利标题 ：
一种平均照度和照度均匀度的综合测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021488089.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-25
授权号 ：
CN212300589U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
杨耀武杨子健徐志诚
申请人 ：
常熟卓辉光电科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟东南经济开发区金都路1号
代理机构 ：
苏州瞪羚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张宇
优先权 ：
CN202021488089.8
主分类号 ：
G01J1/00
IPC分类号 ：
G01J1/00 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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