一种岩土地质勘察深度的测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种岩土地质勘察深度的测量装置，包括三角形结构的安装座、分别与安装座的边角处相铰接的支撑架、设置在每个所述的支撑架下端的固定垫板、设置在所述安装座中部位置的防护外壳、设置在所述防护外壳内的微处理器、与所述微处理器电性连接的距离传感器、设置在所述距离传感器外周的照明灯珠以及设置在所述防护外壳与安装座相连接处的调节轴。本实用新型一种岩土地质勘察深度的测量装置通过支撑架对安装座进行支撑，从而便于对防护外壳进行支撑，且便于通过调节轴对距离传感器的侧视角度进行调节，并通过距离传感器对地质勘测的深度进行测量；另外由于支撑架与安装座相铰接，进而便于对支撑架进行收纳。
基本信息
专利标题 ：
一种岩土地质勘察深度的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021500984.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-27
授权号 ：
CN212432060U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
田野张攀
申请人 ：
田野
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市皇姑区黄河南大街38-1号1-4-5
代理机构 ：
北京众允专利代理有限公司
代理人 ：
沈小青
优先权 ：
CN202021500984.7
主分类号 ：
G01B11/22
IPC分类号 ：
G01B11/22 F16M11/06 F16M11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
