一种光纤衰减长度测量装置及系统

授权

摘要

本申请公开了一种光纤衰减长度测量装置及系统，该测量装置包括：直线导轨，所述直线导轨上滑动设置不透光的滑台，所述滑台上设置有至少一个通孔，所述通孔的轴线与所述直线导轨的导向方向平行；沿所述直线导轨的导向方向间隔设置有至少两个光纤支撑件，所述滑台位于两个所述光纤支撑件之间；所述滑台上设置有与所述通孔一一对应连通的透光孔；光线出射部件，用于通过各所述透光孔向所述通孔出射光线；和光电探测元件，用于对光照强度进行采集。本申请实现了对光纤衰减长度的自动化测量与分析，具有测量结果准确、可靠、可重复性好的优势；并实现了多根光纤的批量检测。

基本信息

专利标题：

一种光纤衰减长度测量装置及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021504504.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-27

授权号：

CN213516279U

授权日：

2021-06-22

发明人：

张笑鹏侯超刘佳赵静吕洪奎盛祥东

申请人：

中国科学院高能物理研究所

申请人地址：

北京市石景山区玉泉路19号（乙）院

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

郭栋梁

优先权：

CN202021504504.4

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00 G01M11/02