一种反射式数显回弹仪
授权
摘要
本实用新型提供了一种反射式数显回弹仪，其包括回弹仪本体、光源发射器、光源检测器和测量电路；所述回弹仪本体上设置有滑块；所述滑块上设置有反射面；所述光源发射器用于向所述反射面发射光束；所述光源检测器用于接收经所述反射面反射后光束；所述测量电路与所述光源检测器连接，用于对光源检测器接收到的光束信号进行处理进而计算出所述滑块的位移变化。本申请中的滑块上设置有反射面，通过光束的反射，可以非接触性测量出工作时滑块的位移变化，从而大大提高了回弹仪的检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种反射式数显回弹仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021523147.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-28
授权号 ：
CN212658559U
授权日 ：
2021-03-05
发明人 ：
郝冬妮张全旭荣博文
申请人 ：
北京智博联科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市西城区德胜门外大街11号1幢301室（德胜园区）
代理机构 ：
北京融智邦达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴强
优先权 ：
CN202021523147.6
主分类号 ：
G01N3/52
IPC分类号 ：
G01N3/52 G01N3/02 G01S17/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/40
测试硬度或回弹硬度
G01N3/52
用测量撞击物体回弹程度
法律状态
2021-03-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
