主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路
授权
摘要
本申请提供了一种主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路，运用于存储芯片测试技术领域，将XU4平台、主控芯片和存储芯片均安装于同一电路中进行内部走线的测试，测试电路包括XU4平台模块和测试平台模块，通过XU4平台模块和测试平台模块电流及数据传导，以解决XU4平台通过外部接线的方式传输信号至主控芯片和NAND Flash时速率过慢的技术问题，排除外接信号线的使用，提升数据传输速率。
基本信息
专利标题 ：
主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021524254.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-27
授权号 ：
CN213024374U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
李斌
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
林国友
优先权 ：
CN202021524254.0
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F11/263 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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