一种标准型UVW对位平台
授权
摘要

本实用新型公开了对位平台技术领域的一种标准型UVW对位平台,包括:找平安装台面;下台面,所述下台面安装在所述找平安装台面的顶部中端;两个横向驱动轴,两个所述横向驱动轴一上一下横向安装在所述下台面的前表面左侧上下两端;纵向驱动轴,所述纵向驱动轴纵向安装所述下台面的前表面右侧顶部;从动轴,所述从动轴安装在所述下台面的前表面右侧底部;上台面,所述上台面安装在所述横向驱动轴、所述纵向驱动轴和所述从动轴的顶部,本实用新型具有较高的承载力,保障了运行稳定性,能够较为方便的对装置进行找平,使用方便,并且便于组装,有效的提高了对位精度。

基本信息
专利标题 :
一种标准型UVW对位平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021531706.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-29
授权号 :
CN213238905U
授权日 :
2021-05-18
发明人 :
楊登豐
申请人 :
誊展精密科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道征程二路2号C栋第三层
代理机构 :
北京华际知识产权代理有限公司
代理人 :
曹书华
优先权 :
CN202021531706.8
主分类号 :
G01C15/00
IPC分类号 :
G01C15/00  G01C9/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2021-05-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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