一种用于测试搪塑表皮原位光泽度的定位装置

授权

摘要

本实用新型涉及一种用于测试搪塑表皮原位光泽度的定位装置，应用在搪塑表皮光泽度测试技术领域，解决了不能快速准确的找出测试时的初始位置，造成测试误差较大的问题，包括铁质样品槽，所述样品槽的四周设置有带有刻度的边框，沿着所述样品槽的宽度方向竖直设置有带有刻度的定位杆，所述定位杆沿着样品槽的长度方向滑动连接，定位装置还包括磁性物质制成的压条；具有提高测试数据的可对比性，且测试误差较小的效果。

基本信息

专利标题：

一种用于测试搪塑表皮原位光泽度的定位装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021535340.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-29

授权号：

CN212674755U

授权日：

2021-03-09

发明人：

万小欢

申请人：

华美工程塑料（常熟）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市常熟市常熟经济开发区氟化学工业园

代理机构：

苏州根号专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

项丽

优先权：

CN202021535340.1

主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/01 G01N21/57