一种便于调节高度的辐射检测装置
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摘要

本实用新型公开了一种便于调节高度的辐射检测装置,包括用于装置移动的移动机构,还包括用于调节检测探头高度的升降机构、用于检测辐射的检测机构,所述升降机构安装在所述移动机构上方,所述检测机构固定在所述升降机构上方。本实用新型通过设置升降机构,能够对检测探头的高度进行调节,从而使得检测探头能够满足不同高度的检测需求,通过设置检测机构,能够自动对检测探头的水平位置进行调节,从而使得检测探头对不同位置进行辐射检测,如此提高了辐射检测效果。

基本信息
专利标题 :
一种便于调节高度的辐射检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021546489.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-30
授权号 :
CN212932696U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
李振辉王奔奔潘宝忠苏万松
申请人 :
福建涌宁检测有限公司
申请人地址 :
福建省泉州市丰泽区丰泽街道泉秀路先锋大厦8E单元
代理机构 :
泉州丰硕知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
林志杰
优先权 :
CN202021546489.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01T7/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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