铂电阻通用测试装置

授权

摘要

本实用新型涉及铂电阻通用测试装置，包括PCB板和框架，其特征是PCB板为单面印制电路板，PCB板的边缘设置有三个以上的安装通孔，PCB板上布置有DIP12双列直插锁紧插座和78芯锁紧矩形插头，78芯锁紧矩形插头与DIP12双列直插锁紧插座的数量比大于或等于2/3，DIP12双列直插锁紧插座的各列从第一个插位开始每相邻两个插位设置一个铂电阻工位，各铂电阻工位分别通过印制线与相应78芯锁紧矩形插头连接，框架与PCB板形状相应，框架上设置有与安装通孔对应的螺纹孔，PCB板通过安装通孔、螺纹孔和螺钉的配合固定在框架上。本实用新型结构简单、成本低廉、使用方便、操作容易、能同时进行多路测试并且不损伤被测器件。

基本信息

专利标题：

铂电阻通用测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021547997.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-30

授权号：

CN212513409U

授权日：

2021-02-09

发明人：

何丹张建宏刘俊峰徐卫东贺颖颖龚恒张岩涛

申请人：

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

申请人地址：

湖北省孝感市长征路95号

代理机构：

武汉开元知识产权代理有限公司

代理人：

徐祥生

优先权：

CN202021547997.X

主分类号：

G01K15/00

IPC分类号：

G01K15/00