一种无损检测扫查架
授权
摘要
本实用新型提供了一种无损检测扫查架，包括水平调节部、第二竖直调节部和探头，所述水平调节部用于带动探头在水平方向运动，所述第二竖直调节部用于带动探头在竖直方向运动。本实用新型所述的一种无损检测扫查架拥有多个可调节角度，可以根据自动探伤设备的运动情况，保证探头与工件良好贴合。
基本信息
专利标题 ：
一种无损检测扫查架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021548260.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN212514560U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
杨东宇孙振国陈咏华赵志刚王明李力
申请人 ：
清华大学天津高端装备研究院;北京时代之峰互联科技有限公司;清华大学
申请人地址 ：
天津市东丽区慧谷园4号楼
代理机构 ：
天津滨海科纬知识产权代理有限公司
代理人 ：
张峻
优先权 ：
CN202021548260.X
主分类号 ：
G01N33/207
IPC分类号 ：
G01N33/207 G01N33/2045
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/207
••熔焊或焊接接头;可焊性
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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