瑕疵采集装置

授权

摘要

一种瑕疵采集装置，包括：相机(1)、图像采集卡(2)、光源(3)、电机(4)、编码器(5)、瑕疵采集平台(6)、卷布装置(8)及工控机(9)；相机(1)设于瑕疵采集平台(6)的上方，可相对于瑕疵采集平台(6)在水平方向或竖直方向移动；光源(3)设于瑕疵采集平台(6)的上方或下方，卷布装置(8)设于瑕疵采集平台(6)两侧的下方；相机(1)与图像采集卡(2)连接，图像采集卡(2)与工控机(9)连接，工控机(9)与电机(4)连接，电机(4)与卷布装置(8)连接；编码器(5)在电机(4)转动时触发相机(1)进行扫描。该装置适用于多种幅宽面料的瑕疵图像采集，提高了采集效率，采集不失真，自动化程度高。

基本信息

专利标题：

瑕疵采集装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021553887.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-30

授权号：

CN213482082U

授权日：

2021-06-18

发明人：

郝灿王国名王颖彭沛然高超朱志忠周维虎

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

北京市朝阳区北土城西路3号

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

周天宇

优先权：

CN202021553887.4

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88