一种射频抗干扰度检测系统
授权
摘要
本申请涉及一种射频抗干扰度检测系统，其包括电波暗室，电波暗室内部固定设置有发射天线，电波暗室内壁上固定设置有多个第一吸波块，电波暗室内设置有绝缘台，绝缘台位于电波暗室底部，电波暗室底部开设有容纳槽，绝缘台位于容纳槽内部且绝缘台底部与容纳槽内壁之间设置有电缸，绝缘台与容纳槽槽壁之间设置有吸波组件，吸波组件用于阻隔电缸启动时对检测波的影响，绝缘台底端始终位于容纳槽内。本申请具有对检测物体充分检测，保证物体检测结果的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种射频抗干扰度检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021572422.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-01
授权号 ：
CN212749089U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
孟德仲徐静长
申请人 ：
北京亿策工程技术有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区望京北路9号2幢四层A402
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021572422.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G01R1/04 G01R1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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