一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,涉及微波探测技术领域,该系统包括安装在转台上并连接水平和俯仰两个轴的干涉仪测向天线阵列,干涉仪测向天线阵列包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元,干涉仪测向天线阵列上的各个天线单元通过矩阵开关串联第二放大器接入矢量网络分析仪,矢量网络分析仪还通过第一放大器连接发射天线,发射天线与干涉仪测向天线阵列相对设置;矢量网络分析仪连接主控设备,主控设备连接并控制矩阵开关以及转台;该系统可以评估干涉仪测向天线阵列的测角正确性,有效的帮助前期天线方案的验证和后期系统问题的排查。

基本信息
专利标题 :
一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021587562.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-03
授权号 :
CN212905168U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
王宇王天阳王祥魏一平
申请人 :
无锡国芯微电子系统有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市建筑西路777号蠡园开发区无锡国家集成电路设计中心A7幢
代理机构 :
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
过顾佳
优先权 :
CN202021587562.8
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  G01V3/12  G01V13/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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