一种磁环高度和尺寸综合测量设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种磁环高度和尺寸综合测量设备，涉及测量设备设计技术领域，本实用新型包括综合测量设备框架、激光测距仪、视觉测量仪、待测平台以及总控机箱，综合测量设备框架包括激光测距仪固定架以及相机高度调节架，激光测距仪包括滑动电机，激光测距仪固定架一表面设有滑槽，滑动电机一端与滑槽滑动配合，视觉测量仪包括相机固定架，相机固定架一表面与相机高度调节架通过螺纹螺孔连接，综合测量设备框架下表面设有定位孔，待测平台一表面与定位孔旋转配合，待测平台包括传动履带，传动履带一表面与旋转轴滑动配合，本实用新型中，无损测量保证产品生产质量，本发明有效的融合两者的功能，将2台设备综合成一台。
基本信息
专利标题 ：
一种磁环高度和尺寸综合测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021624473.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-07
授权号 ：
CN213041993U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
俞宝清
申请人 ：
宁波兰辰光电有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市海曙区望春工业园区杉杉路1号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021624473.6
主分类号 ：
G01S17/08
IPC分类号 ：
G01S17/08 G01S17/86 G01B11/02 G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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