一种键盘键帽组装质量的检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种键盘键帽组装质量的检测装置,包括机台,所述机台上设有左右滑动的直线模组,所述直线模组上滑动设有键盘固定治具,所述直线模组的两侧从左到右依次设有固定于机台上的对称结构的第一支架、第二支架、第三支架,所述第一支架与第二支架上分别架设有第一拨键帽机构与第二拨键帽机构,所述第三支架上固定有悬板,所述悬板的下方连接有三维视觉传感器,所述第一拨键帽机构包含固定板、拨杆组件、升降马达,所述第二拨键帽机构与第一拨键帽机构结构相同。本实用新型的有益效果是:可实现键盘上组装不良的键帽的全部拨离,键帽的高低及轮廓的检测,且自动化程度高,键帽拨离速度快,键盘、键帽无损伤,工作效率快,作业质量高。
基本信息
专利标题 :
一种键盘键帽组装质量的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021637063.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-07
授权号 :
CN212872242U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
靳民奇杨泊山
申请人 :
苏州歌德尔自动化有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇玉杨路777号22号厂房2楼
代理机构 :
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王利斌
优先权 :
CN202021637063.5
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95 B07C5/34 B07C5/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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