一种治具上、下间隙检测机构
授权
摘要
本申请公开了一种治具上、下间隙检测机构，包括固定底板、紧固件、固定孔、第一螺杆、第二螺杆、限位盖和检测单元；所述固定底板的上表面开设有多个固定孔；所述固定底板的上表面通过两个紧固件固接有第一螺杆和第二螺杆；所诉第一螺杆和第二螺杆的上端均螺纹固接有限位盖；解决了传统的检测机构检测麻烦和操作不便的问题，提高了检测间隙的精度和操作便携性；通过固定底板、紧固件、固定孔、第一螺杆、第二螺杆和限位盖的结构设计,实现了简单高精度安装的功能，解决了传统的检测机构安装精度不高的问题，提高了安装检测的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种治具上、下间隙检测机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021664646.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-11
授权号 ：
CN212779045U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
雷伟雷祥
申请人 ：
武汉金咏达机械科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭三路28号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021664646.7
主分类号 ：
G01B5/14
IPC分类号 ：
G01B5/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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