一种点阵式红外热像产生装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种点阵式红外热像产生装置，包括上基板以及下基板，所述上基板以及所述下基板上均安装有发热制冷单元，所述发热制冷单元由N型半导体晶粒、第一金属片、第三金属片、第二金属片以及P型半导体晶粒组成，所述第三金属片底侧两端分别固定连接N型半导体晶粒以及P型半导体晶粒，所述N型半导体晶粒底端设置有第二金属片，所述P型半导体晶粒底端设有第一金属片，通电时，每个单元的温度可以单独控制，既可以制冷，又可以制热，按照一定的规律进行控制，分立单元面产生所需要的温度分布，用红外热像仪观察时，就可以看到该点阵所产生的红外热像。
基本信息
专利标题 ：
一种点阵式红外热像产生装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021670535.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-12
授权号 ：
CN213120858U
授权日 ：
2021-05-04
发明人 ：
路远杨华冯云松王津金伟陈友才王一程
申请人 ：
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市开福区德雅路109号
代理机构 ：
上海领洋专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
章冬霞
优先权 ：
CN202021670535.7
主分类号 ：
G01J5/16
IPC分类号 ：
G01J5/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/12
用热电元件，例如热电偶
G01J5/14
电学特征
G01J5/16
与冷结有关的装置；环境温度或其他可变因素影响的补偿
法律状态
2021-05-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
