一种隔磁片冲击试验测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种隔磁片冲击试验测试装置,包括测试台,测试台顶端的一侧固定设有第一竖板,第一竖板的一侧固定设有导轨,导轨的外壁滑动连接有滑筒,滑筒外壁一侧的中部固定设有支杆,滑筒的底端设有冲击头,测试台顶端的中部固定设有固定台,测试台顶端的另一侧固定设有第二竖板,第二竖板一侧的顶部设有转盘,转盘一端的边缘处固定设有转辊,本实用新型中转辊与支杆分离,滑筒落下,冲击头撞击固定台上的待测试隔磁片,测试装置结构简单,操作方便,转辊与支杆分离后,需要经过一段时间后才能再次与支杆接触并带动滑筒向上运动,在两次冲击测试之间预留了充分的时间,便于操作人员观察待测试隔磁片的状态。

基本信息
专利标题 :
一种隔磁片冲击试验测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021684305.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-13
授权号 :
CN212748577U
授权日 :
2021-03-19
发明人 :
宋俊赵享平
申请人 :
湖南韩顺电子科技有限公司
申请人地址 :
湖南省常德市澧县澧澹街道办事处上福居委会创新创业园B1栋3楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021684305.6
主分类号 :
G01N3/303
IPC分类号 :
G01N3/303  G01N3/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/30
用一次冲击力
G01N3/303
仅由自由下落的重物产生的
法律状态
2021-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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