一种延长漏电保护插头寿命试验按钮结构

授权

摘要

本实用新型公开了一种延长漏电保护插头寿命试验按钮结构，特别是涉及支座技术领域，包括PCBA板和测试片，PCBA板位于测试片下端，通过按压按钮，使得按钮向下端移动，带动测试片与圆环向下移动，由于滑块受到拉力弹簧的拉力而不断向内侧挤压，待圆环带动挤压件下移时，活动块和挡板会跟随滑块向内侧移动，这时的接触片会与触点接触，从而接通电路进行漏电测试，接着松开按钮，让主弹簧将圆环顶起，使得挤压件向上移动并且挤压活动块，使得活动块带动挡板向外侧移动，挡板随之移动到接触片和触点之间，从而使得电路断开，这样就可以减少漏电保护插头试验按钮结构容易出现常闭的风险，以达到增加漏电保护插头试验按钮结构使用寿命的效果。

基本信息

专利标题：

一种延长漏电保护插头寿命试验按钮结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021715495.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-17

授权号：

CN212625277U

授权日：

2021-02-26

发明人：

杨翔云施雅静何谋

申请人：

磁菱科技（福州）有限责任公司

申请人地址：

福建省福州市闽侯县上街镇学园路2号福州大学科技园阳光科技大厦北910室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021715495.3

主分类号：

H01H13/02

IPC分类号：

H01H13/02 H01H13/10 H01H13/14 H01H13/28 H01H83/04