一种便于定位的电子元器件加工用检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种便于定位的电子元器件加工用检测装置,包括工作台、底座、第一固定块、第一支撑块、检测件和转动杆,所述工作台的上端表面安装开设有第二滑槽,且第二滑槽内安装有第二滑块,所述底座固定在第二滑块的上端,且底座上表面开设有环形滑槽,并且环形滑槽内安装有第一滑块,所述第一滑块的下端安装有第一滑块,且转动台的内部开设有第一滑槽,所述第一固定块安装在转动台上,且第一固定块的右侧安装有弹簧与第二固定块连接。该便于定位的电子元器件加工用检测装置,采用滑块的结构设计,设计成本低,结构简单,使用安装方便,且不易损坏,可以通过滑块控制元器件的水平位置移动。

基本信息
专利标题 :
一种便于定位的电子元器件加工用检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021719499.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-18
授权号 :
CN213240231U
授权日 :
2021-05-18
发明人 :
郎永红
申请人 :
郎永红
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道前进公社13栋502
代理机构 :
深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王志强
优先权 :
CN202021719499.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-05-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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