本实用新型公开了一种浮动式IC测试座，包括浮动板、第一连接板、第二连接板以及保护板，浮动板通过第一固定件与第一连接板固定连接；第一连接板通过第二固定件依次穿过第二连接板和保护板与保护板固定连接；测试器朝向浮动板一端与待测芯片的锡球接触且另一端穿出第三贯穿孔于通孔内。本实用新型通过待测芯片的锡球与测试器顶端接触，减少了芯片测试中的信号接触不良的情况发生；压缩弹簧对浮动板提供一个反力，避免测试盖下压造成第一连接板和待测芯片的损坏，减少了更换维修次数和费用；通孔避免了测试器穿出第三贯穿孔的部分因碰撞而损坏，使测试器穿出第三贯穿孔的部分更不容易触碰到保护板，减少测试器损坏的情况。