本实用新型公开了一种集成电路测试用多功能测试台，包括底座，所述底座上设有收缩测试结构；所述收缩测试结构包括：收缩箱体、剪叉升降台、四个滑轨、测试箱体、测试组件、箱体盖、铰座以及支撑腿，本实用新型涉及集成电路测试技术领域，本案采用的收缩测试结构，通过内置的剪叉升降台可实现对测试箱体的高度调节的目的，且在不进行测试时，还具有收纳功能，减少占用空间，通过内置的测试组件，可将测试板以及测试插孔收纳进测试箱体内，在不使用时可有效地保护测试插孔不受到破坏，从而有效的解决了现有的测试台不具有高度调节功能，对于身高不同的测试人员来说，使用也不方便，影响使用效率的技术问题。