绝缘子盐密度测试仪结构
授权
摘要
本实用新型公开一种绝缘子盐密度测试仪结构，包括安装座、安装面板、测试组件以及电路板组件，所述安装座具有一上端开口的安装腔；所述安装面板自所述开口盖设于所述安装腔的上端，所述安装面板的上端面形成有沿前后向间隔设置的两个安装入口，两个所述安装入口与所述安装腔连通；所述测试组件包括微型热敏打印机和液晶触摸屏，所述微型热敏打印机和所述液晶触摸屏分别自两个所述安装入口安装至所述安装腔内，所述电路板组件设于所述安装腔内，所述电路板组件分别与所述微型热敏打印机以及所述液晶触摸屏电连接。功能齐全，占用空间小。
基本信息
专利标题 ：
绝缘子盐密度测试仪结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021761775.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
CN213022724U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
汪志洪段龙
申请人 ：
武汉鸿志高测电气技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心三期4-02-403
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
宋朝政
优先权 ：
CN202021761775.8
主分类号 ：
G01N9/00
IPC分类号 ：
G01N9/00 G01N9/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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