振动测试台校准系统
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摘要

本实用新型公开了一种振动测试台校准系统,涉及振动测试技术领域。该振动测试台校准系统包括校准振动控制器、第一校准量测传感器及待测振动测试台。待测振动测试台包括待测振动控制器以及依次连接的振动源、振动台及用于承载待测物品的振动支架,待测振动控制器与振动源通讯连接,且能够控制振动源以目标振动谱振动。校准振动控制器与第一校准量测传感器通讯连接,第一校准量测传感器安装于振动源、振动台或振动支架,且能够测量待测振动测试台振动时的实际振动情况,并生成第一实际振动数据,校准振动控制器能够将第一实际振动数据转化为实际振动谱。该振动测试台校准系统具有结构简单,且便于测量的特点。

基本信息
专利标题 :
振动测试台校准系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021774629.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-21
授权号 :
CN212567854U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
臧其甫杨威陈涛
申请人 :
上海华兴数字科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区川沙新镇川大路318号
代理机构 :
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵志远
优先权 :
CN202021774629.9
主分类号 :
G01M7/02
IPC分类号 :
G01M7/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/02
•振动测试
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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