一种通用于地电波和特高频局放测试的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种通用于地电波和特高频局放测试的装置，包括下保护外壳、数据处理笔记本电脑、上保护外壳和特高频局放测试仪，所述下保护外壳的内侧安装有缓冲垫，所述数据处理笔记本电脑的左侧安装有弯折保护套，所述弯折保护套和过弯保护套的外端均设置有导线，所述下保护外壳的后侧设置有上保护外壳，所述安装垫的内部左上侧设置有内置式特高频测试仪，所述安装垫的内侧安装有线收束盘。该通用于地电波和特高频局放测试的装置，能够通用于地电波和特高频局放测试，无需在局放测试时需携带多个局放测试装置，从而减少操作者的劳动量，且能够对对特高频检测仪进行收纳，减少其所占用的空间，从而减少装置体积。
基本信息
专利标题 ：
一种通用于地电波和特高频局放测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021792054.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-24
授权号 ：
CN212905245U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
张辉
申请人 ：
武汉国能测控有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道以南、凤凰中路以西光谷动力节能环保科技企业孵化器(加速器)二期第5栋4层01号401-404室(一址多照)
代理机构 ：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
丁倩
优先权 ：
CN202021792054.3
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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