一种环形器芯片检测冶具
授权
摘要
本实用新型公开了一种环形器芯片检测冶具,涉及环形器的技术领域，包括底座，所述底座的上表面设置有定位槽，所述定位槽的内侧壁上通过螺纹设置有若干贯穿该内侧壁定位螺杆，所述定位螺杆伸入定位槽的一端设置有推板，所述定位槽的内侧壁上还设置有若干贯穿该内侧壁的探测孔，所述底座上还设置有卸料结构；所述卸料结构包括设置于定位槽底部内壁的若干呈圆环形排列的隐藏槽、滑动套设于底座外壁的压环、以及若干贯穿定位槽内侧壁通孔，若干所述隐藏槽分别与若干通孔连通，每个所述隐藏槽内分别放置有顶杆，所述顶杆贯穿通孔的一端与连杆转动连接，所述连杆远离顶杆的一端与压环转动连接；本实用新型具有使用方便、灵活度高、便于卸料等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种环形器芯片检测冶具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021793509.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-25
授权号 ：
CN213422232U
授权日 ：
2021-06-11
发明人 ：
徐厚恋朱红卫夏文海
申请人 ：
安徽施奈特通讯技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省铜陵市翠湖路五路西段129号B3栋
代理机构 ：
安徽力澜律师事务所
代理人 ：
沈国庆
优先权 ：
CN202021793509.3
主分类号 ：
G01D21/00
IPC分类号 ：
G01D21/00 G01D11/00 G01D11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2021-06-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
