一种可调释放高度的定向跌落试验设备
授权
摘要

本申请涉及电子测试设备的领域,尤其是涉及一种可调释放高度的定向跌落试验设备,包括保护箱和控制器,保护箱内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构,保护箱内且位于定位机构的一侧设置有光电传感器,定位机构上设置有与光电传感器适配的挡片,定位机构、光电传感器均与控制器电连接。本申请通过改变光电传感器高度从而达到实时改变跌落实验设备释放高度的效果。

基本信息
专利标题 :
一种可调释放高度的定向跌落试验设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021819907.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN212432474U
授权日 :
2021-01-29
发明人 :
章建军叶春淼
申请人 :
深圳市鼎准电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道罗田社区象山大道142号象山湾工业园B栋4单元6层
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
诸炳彬
优先权 :
CN202021819907.8
主分类号 :
G01M7/08
IPC分类号 :
G01M7/08  G01D5/34  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/08
•冲击测试
法律状态
2021-01-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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