偏振片和偏振测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种偏振片和偏振测量装置。偏振片包括至少一个起偏部,每一个起偏部用于将光线过滤,以形成线偏振光,线偏振光用于照射被测物体,并用于照射被测物体后反射出去。至少一个检偏部,检偏部的数量与起偏部的数量相同,每一个检偏部与其中一个起偏部在偏振片上呈中心对称分布,检偏部用于过滤从被测物体反射出去的线偏振光。通过在一片偏振片上设置中心对称的起偏部与检偏部,在同一片偏振片上就可以完成不同偏振角度的起偏与检偏操作,简化了设计检测装置的复杂结构,便于检测装置微型化。

基本信息
专利标题 :
偏振片和偏振测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021834553.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN212658338U
授权日 :
2021-03-05
发明人 :
吴剑孙伟政刘一蓉熊今朝
申请人 :
清华大学深圳国际研究生院
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
黄广龙
优先权 :
CN202021834553.4
主分类号 :
G01J4/00
IPC分类号 :
G01J4/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
法律状态
2021-03-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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