一种锁紧装置、观测治具及检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种锁紧装置、观测治具及检测设备，该锁紧装置包括底座，底座上设置有定位型腔，转动设置于所述底座上以限位或者脱开产品的限位杆，其中，所述限位杆至少一端部设置有第一连接件，所述底座上设置有与所述第一连接件相配合的第二连接件，定位时，在外力作用下，所述限位杆转动至第一连接件与第二连接件配合位置处固定，限位杆拦设于所述定位型腔上方；脱开时，外力作用下，限位杆反向转动，第一连接件与第二连接件脱开，限位杆置于定位型腔侧方，通过设置限位杆可以在外力作用下，快速的锁紧或脱开定位型腔，操作方便，同时此锁紧装置，结构简单，成本较低。
基本信息
专利标题 ：
一种锁紧装置、观测治具及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021854975.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN213337889U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
张苏远
申请人 ：
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区港田路青丘街青丘巷8号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021854975.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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