一种用于光学膜片辅助测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及光学膜片技术领域，尤其涉及一种用于光学膜片辅助测量装置，包括箱体，所述箱体的内侧设置有多组测磨机构，所述测磨机构包括水平设置在箱体内部的支撑板，所述支撑板的上方设置有连接板，所述连接板的内侧活动插装有连接柱，所述连接柱的底端连接有耐磨板，所述连接柱的外侧套设有弹簧，所述弹簧的上端和下端分别与连接板和耐磨板相抵，所述连接柱的顶端设置有限位盘，所述连接板的一侧共同连接有滑动机构，本实用新型结构简单，使用较为便利，且可以多层实验测量，大大的提升了生产光学膜片的成品质量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光学膜片辅助测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021857009.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN212646372U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
赵小强杨旭
申请人 ：
绵阳虹瑞科技有限公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市北川羌族自治县永昌镇山东产业园区
代理机构 ：
成都元信知识产权代理有限公司
代理人 ：
冯冰
优先权 ：
CN202021857009.1
主分类号 ：
G01N3/56
IPC分类号 ：
G01N3/56 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/54
••在高温或低温下进行试验
G01N3/56
测试抗磨损或腐蚀
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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