入炉冶炼原料全元素检测装置及在线自动监控系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种入炉冶炼原料全元素检测装置及在线自动监控系统，其中入炉冶炼原料全元素检测装置包括脉冲激光装置、X射线荧光光谱分析装置、限域环、高压放电电极、ICCD相机、样品室、三维电控平移台、计算机；三维电控平移台位于样品室内；限域环位于三维电控平移台上方；脉冲激光装置与计算机连接，脉冲激光装置包括脉冲激光器和聚焦组件；X射线荧光光谱分析装置包括X射线荧光光谱分析仪及光纤光学接收系统；高压放电电极固定于样品放置部的上方；ICCD相机与计算机连接，且设于所述样品室上盖处。激光诱导击穿光谱技术结合X射线技术优势互补实现冶炼过程中的入炉原料全元素同步快速定量化监测，指导原料配比，增加冶炼效率和安全生性。
基本信息
专利标题 ：
入炉冶炼原料全元素检测装置及在线自动监控系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021858257.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN213749677U
授权日 ：
2021-07-20
发明人 ：
潘安练
申请人 ：
湖南大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市岳麓区麓山南路2号
代理机构 ：
长沙市融智专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡喜舟
优先权 ：
CN202021858257.8
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-07-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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