一种斜推式测试设备
授权
摘要

本实用新型涉及一种斜推式测试设备,包括底座,底座上设有至少一个测试单元,测试单元包括倾斜设置有支撑板,支撑板的较高一端设有与被测产品的插接件相匹配的测试接口,支撑板上滑动设置有产品托盘,产品托盘内设有固定槽,被测产品可随着产品托盘一同沿着支撑板滑动,并与测试接口插接或分离。本实用新型通过在底座上设置倾斜的支撑板,被测产品可随着产品托盘一同沿着支撑板滑动,在被测产品与测试接口插接时,被测产品的镜头的轴线方向与底座上表面的垂直方向之间的夹角很小,甚至没有夹角,这样无需要很大的测试台,且位于天花板上并用于采集的标准图像画板也无需斜置,测试角度调整方便,大大降低了测试的用具配备需求,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种斜推式测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021865727.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-31
授权号 :
CN212932822U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
罗教群荣少波
申请人 :
南斗六星系统集成有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市经济技术开发区206M地块华中电子商务产业园B3/B5栋1-6层B3/B5-1室
代理机构 :
武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王力
优先权 :
CN202021865727.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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