CMOS原理与应用实验仪
授权
摘要
本实用新型公开了CMOS原理与应用实验仪，包括CMOS原理与应用实验仪主体，所述CMOS原理与应用实验仪主体上安装有调节座，且CMOS原理与应用实验仪主体上设有CMOS相机和待测件，所述CMOS原理与应用实验仪主体下端设有底座，且CMOS原理与应用实验仪主体上设有防护罩，所述调节座上端设有第一安装座和第二安装座，且第二安装座上端连接有固定架，所述固定架为U型结构，且固定架侧面贯穿连接有紧固螺栓，所述调节座下端均匀安装有滚轮，且底座处于调节座两侧。该CMOS原理与应用实验仪能够对待测件进行稳固的固定，有效降低待测件晃动所产生的测量误差，便于使用者了解CMOS原理与应用。
基本信息
专利标题 ：
CMOS原理与应用实验仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021873438.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-01
授权号 ：
CN212903054U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
孟祥全
申请人 ：
天津梦祥原科技有限公司
申请人地址 ：
天津市武清区开发区福源道北侧C05号楼701
代理机构 ：
天津市鼎拓知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘雪娜
优先权 ：
CN202021873438.8
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/24 G01N21/27 G01N21/84 G01N21/01 H04N5/225
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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