一种用于测年仪的垂直握持式测杆
授权
摘要
本实用新型属于测年仪的垂直握持式测杆技术领域，本实用新型公开了一种用于测年仪的垂直握持式测杆，所述握持手柄本体为中空的圆柱形；芯轴竖直固定设置在握持手柄本体的中心位置，所述芯轴的底部一体式设置有锥尖；条状磁感应体固定设置在所述芯轴的左侧位置；所述芯轴套固定设置在所述握持手柄本体的底部中心位置；芯轴连接部固定设置在芯轴的顶部位置；锁紧螺母固定设置在所述芯轴连接部的左侧位置；所述支撑测杆的左端固定设置有热缩胶管，延伸测杆套接在所述热缩胶管的左端；磁性感应体固定设置在支撑测杆或延伸测杆的左侧端部位置。本实用新型，大大提高了测杆的摆动灵敏度，从而最终提高了测杆对物体断代的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测年仪的垂直握持式测杆
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021893784.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-03
授权号 ：
CN213042001U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
王光辉
申请人 ：
王光辉
申请人地址 ：
河南省洛阳市西工区八一路20号院10栋6门301号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021893784.2
主分类号 ：
G01T1/167
IPC分类号 ：
G01T1/167
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量，例如，污染的测量
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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